AUTHOR ARCHIVE

Authors: Ahammad, R.; Stacey, N.; Eddy, I.M.S.; Tomscha, S.A.; Sunderland, T.C.H.

Authors: Vasquez, W.; Sunderland, T.C.H.

Authors: van Noordwjik, M.; Sunderland, T.C.H.

Authors: Forboseh, P.F.; Eno-Nku, M.; Sunderland, T.C.H.

Authors: Parmentier, I.; Harrigan, R.J.; Buermann, W.; Mitchard, E.T.A.; Saatchi, S.; Malhi, Y.; Bongers, F.; Hawthorne, W.D.; Leal, M.E.; Lewis, S.L.; Nusbaumer, L.; Sheil, D.; Sosef, M.S.M.; Affum-Baffoe, K.; Bakayoko, A.; Chuyong, G.B.; Chatelain, C.; Comiskey, J.A.; Dauby, G.; Doucet, J.L.; Fauset, S.; Gautier, L.; Gillet, J.F.; Kenfack, D.; Kouame, F.N.; Kouassi, E.K.; Kouka, L.A.; Parren, M.P.E.; Peh, K.S.H.; Reitsma, J.M.; Senterre, B.; Sonke, B.; Sunderland, T.C.H.; Swaine, M.D.; Tchouto, M.G.P.; Thomas, D.; van Valkenburg, J.L.C.H.; Hardy, O.J.

Authors: Cunningham, A.B.; Tientcheu, M.L.A.; Anoncho, V.F.; Nkuinkeu, R.; Sunderland, T.

Authors: Cunningham, A.B.; Anoncho, V.F.; Sunderland, T.C.H.

Authors: Jingjing, L.; Crowther, T.W.; Picard, N.; Wiser, S.; Mo, Z.; Alberti, G.; Schulze, E-D.; McGuire, A.D.; Bozzato, F.; Pretzsch, H.; de-Miguel, S.; Paquette, A.; Hérault, B.; Scherer-Lorenzen, M.; Barrett, C.B.; Glick, H.B.; Hengeveld, G.M.; Nabuurs, G-J.; Pfautsch, S.; Viana, H.; Vibrans, A.C.; Ammer, C.; Schall, P.; Verbyla, D.; Tchebakova, N.; Fischer, M.; Watson, J.V.; Han, Y.H.C.; Xiandong, L.; Schelhaas, M-J.; Huicui, L.; Gianelle, D.; Parfenova, E.I.; Salas, C.; Lee, E.; Lee, B.; Hyun, S.K.; Bruelheide, H.; Coomes, D.A.; Piotto, D.; Sunderland, T.C.H.; Schmid, B.; Gourlet-Fleury, S.; Sonké, B.; Tavani, R.; Jun, Z.; Brandl, S.; Vayreda, J.; Kitahara, F.; Searle, E.B.; Neldner, V.J.; Ngugi, M.R.; Baraloto, C.; Frizzera, L.; Balazy, R.; Oleksyn, J.; Zawila-Niedzwiecki, T.; Bouriaud, O.; Bussotti, F.; Finér, L.; Jaroszewicz, B.; Jucker, T.; Valladares, F.; Jagodzinski, A.M.; Peri, P.L.; Gonmadje, C.; Marthy, W.; O'Brien, T.; Martin, E.H.; Marshall, A.R.; Rovero, F.; Bitariho, R.; Niklaus, P.A.; Alvarez-Loayza, P.; Chamuya, N.; Valencia, R.; Mortier, F.; Wortel, V.; Engone-Obiang, N.L.; Ferreira, L.V.; Odeke, D.E.; Vasquez, R.M.; Lewis, S.L.; Reich, P.B.

Authors: Slik, J.W.F.; Franklin, J.; Arroyo-Rodríguez, V.; Field, R.; Aguilar, S.; Aguirre, N.; Ahumada, J.; Aiba, S-I.; Alves, L.F.; Anitha, K.; Avella, A.; Mora, F.; Aymard C., G.A.; Báez, S.; Balvanera, P.; Bastian, M.L.; Bastin, J-F; Bellingham, P.J.; van den Berg, E.; da Conceição Bispo, P.; Boeckx, P.; Boehning-Gaese, K.; Bongers, F.; Boyle, B.; Brambach, F.; Brearley, F.Q.; Brown, S.; Chai, S-L.; Chazdon, R.L.; Chen, S.; Chhang, P.; Chuyong, G.; Ewango, C.; Coronado, I.M.; Cristóbal-Azkarate, J.; Culmsee, H.; Damas, K.; Dattaraja, H.S.; Davidar, P.; DeWalt, S.J.; Din, H.; Drake, D.R.; Duque, A.; Durigan, G.; Eichhorn, K.; Eler, E.S.; Enoki, T.; Ensslin, A.; Fandohan, A.B.; Farwig, N.; Feeley, K.J.; Fischer, M.; Forshed, O.; Garcia, Q.S.; Garkoti, S.C.; Gillespie, T.W.; Gillet, J-F.; Gonmadje, C.; Granzow-de la Cerda, I.; Griffith, D.M.; Grogan, J.; Hakeem, K.R.; Harris, D.j.; Harrison, R.D.; Hector, A.; Hemp, A.; Homeier, J.; Hussain, M.S.; Ibarra-Manríquez, G.; Hanum, I.F.; Imai, N.; Jansen, P.A.; Joly, C.A.; Joseph, S.; Kartawinata, K.; Kearsley, E.; Kelly, D.L.; Kessler, M.; Killeen, T.J.; Kooyman, R.M.; Laumonier, Y.; Laurance, S.G.; Laurance, W.F.; Lawes, M.J.; Letcher, S.G.; Lindsell, J.; Lovett, J.; Lozada, J.; Lu, X.; Lykke, A.M.; Mahmud, K.; Mahayani, N.P.D.; Mansor, A.; Marshall, A.R.; Martin, E.H.; Calderado Leal Matos, D.; Meave, J.A.; Melo, F.P.L.; Mendoza, Z.H.A.; Metali, F.; Medjibe, V.P.; Metzger, J.P.; Metzker, T.; Mohandass, D.; Munguía-Rosas, M.A.; Muñoz, R.; Nurtjahy, E.; de Oliveira, E.L.; Onrizal; Parolin, P.; Parren, M.; Parthasarathy, N.; Paudel, E.; Perez, R.; Pérez-García, E.A.; Pommer, U.; Poorter, L.; Qi, Lan; Piedade, M.T.F.; Pinto, J.R.R.; Poulsen, A.D.; Poulsen, J.R.; Powers, J.S.; Prasad, R.C.; Puyravaud, J-P.; Rangel, O.; Reitsma, J.; Rocha, D.S.B.; Rolim, S.; Rovero, F.; Rozak, A.; Ruokolainen, K.; Rutishauser, E.; Rutten, G.; Mohd. Said, M.N.; Saiter, F.Z.; Saner, P.; Santos, B.; dos Santos, J.R.; Sarker, S.K.; Schmitt, C.B.; Schoengart, J.; Schulze, M.; Sheil, D.; Sist, P.; Souza, A.F.; Spironello, W.R.; Sposito, T.; Steinmetz, R.; Stevart, T.; Suganuma, M.S.; Sukri, R.; Sultana, A.; Sukumar, R.; Sunderland, T.C.H.; Supriyadi; Suresh, H.S.; Suzuki, E.; Tabarelli, M.; Tang, J.; Tanner, E.V.J.; Targhetta, N.; Theilade, I.; Thomas, D.; Timberlake, J.; de Morisson Valeriano, M.; van Valkenburg, J.; Tran, V.D.; Hoang, V.S.; Vandermeer, J.H.; Verbeeck, H.; Vetaas, O.R.; Adekunle, V.; Vieira, S.A.; Webb, C.O.; Webb, E.L.; Whitfeld, T.; Wich, S.; Williams, J.; Wiser, S.; Wittmann, F.; Yang, X.; Adou Yao, C.Y.; Yap, S.L.; Zahawi, R.A.; Zakaria, R.; Zang, R.

Authors: Gunarso, P.; Setyawati, T.; Sunderland, T.C.H.; Shackleton, C.; eds.